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Machine learning support for fault diagnosis of System-on-Chip
作者:edited by Patrick Girard, Shawn Blanton, Li-C. Wang.
出版者:Springer International Publishing : Imprint: Springer
出版地:Cham :
語文:英語
電子資源:
https://doi.org/10.1007/978-3-031-19639-3
ISBN/ISSN/ISRC:9783031196393 ; 9783031196386
作者:
Girard, Patrick.
;
Blanton, Shawn.
;
Wang, Li-C.
索書號:621.3815
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