Machine learning support for fault diagnosis of System-on-Chip

• 作者：edited by Patrick Girard, Shawn Blanton, Li-C. Wang.
• 出版者：Springer International Publishing : Imprint: Springer
• 出版地：Cham :
• 語文：英語
• 電子資源：https://doi.org/10.1007/978-3-031-19639-3
• ISBN/ISSN/ISRC：9783031196393 ; 9783031196386
• 作者：Girard, Patrick.;Blanton, Shawn.;Wang, Li-C.
• 索書號：621.3815