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Test generation of crosstalk delay faults in VLSI circuits
作者:by S. Jayanthy, M.C. Bhuvaneswari.
出版者:Springer Singapore : Imprint: Springer
出版地:Singapore :
語文:英語
電子資源:
https://doi.org/10.1007/978-981-13-2493-2
ISBN/ISSN/ISRC:9789811324932 ; 9789811324925
作者:
Jayanthy, S.
;
Bhuvaneswari, M.C.
索書號:621.395
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