Trace-based post-silicon validation for VLSI circuits

• 作者：by Xiao Liu, Qiang Xu.
• 出版者：Springer International Publishing : Imprint: Springer
• 出版地：Cham ; New York :
• 語文：英語
• 叢書名：Lecture notes in electrical engineering ;
• 電子資源：http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-00533-1
• ISBN/ISSN/ISRC：9783319005331 (electronic bk.) ; 9783319005324 (paper)
• 作者：Liu, Xiao.;Xu, Qiang.
• 索書號：621.395