奈米檢測技術 = Avanced nano-scale inspection technology /

• 作者：伍秀菁,汪若文編輯
• 出版者：國家實驗研究院儀器科技研究中心
• 出版地：新竹市 :
• ISBN/ISSN/ISRC：9789868140943 平裝
• 作者：伍秀菁;汪若文
• 索書號：440.7