Statistical performance analysis and modeling techniques for nanometer VLSI designs

• 作者：by Ruijing Shen, Sheldon X.-D. Tan, Hao Yu.
• 出版者：Springer US
• 出版地：Boston, MA :
• 語文：英語
• 電子資源：http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0788-1
• ISBN/ISSN/ISRC：9781461407881 (electronic bk.) ; 9781461407874 (paper)
• 作者：Shen, Ruijing.;Tan, Sheldon X.-D.;Yu, Hao.
• 索書號：621.395